Software de pruebas paramétricas de semiconductores SPS5000

Description

El software para pruebas paramétricas de semiconductores SPS5000 está equipado con la unidad de medición de fuente de alta precisión IT2800. Permite realizar rápidamente pruebas de semiconductores para la caracterización de dispositivos IV y pruebas paramétricas.

El SPS5000 admite los modos de CC, pulso, barrido simple y bidireccional. Con una interfaz gráfica intuitiva, el SPS5000 ayuda a laboratorios universitarios, proveedores de semiconductores e institutos de investigación a realizar rápidamente pruebas de caracterización de dispositivos semiconductores.

Details
  • La interfaz gráfica de usuario intuitiva simplifica la configuración de la medición, la caracterización IV y el análisis de datos
  • Proporciona elementos de prueba listos para usar para MOSFET/BJT/diodos/resistencias para una recuperación rápida
  • Función de secuencia de prueba automatizada para la ejecución continua de pruebas de múltiples parámetros para dispositivos*1
  • El trazado de datos interactivo y en tiempo real acelera la revisión de los resultados de las pruebas
  • Modo de prueba rápida para realizar pruebas de hasta 32 canales DUT simultáneamente
  • La base de datos incorporada permite al usuario almacenar y recuperar rápidamente los datos y gráficos
  • Potentes herramientas de análisis de gráficos, como escala automática y operaciones de línea
  • Capacidades para múltiples ejes Y y tipo de parámetro configurable y tipo de escala del eje Y/eje X
  • Proporciona una función de elemento de prueba personalizada*2
  • Software compatible con el sistema operativo Windows 7 (o superior)
  • Accesorio de prueba IT-E803 para diodos de baja potencia y prueba Mosfet (42 V/1 A)
  • Capaz Se utiliza con SMU de la serie IT2800, resolución mínima de hasta 100 nV/10 fA.